服務(wù)能力
武漢金測(cè)實(shí)驗(yàn)室擁有50L的HASA試驗(yàn)箱及應(yīng)力篩選系統(tǒng),可對(duì)潮濕環(huán)境下非密封封裝器件進(jìn)行可靠性評(píng)估。利用嚴(yán)酷的溫度,濕度及偏置條件來(lái)加速水穿過(guò)外部保護(hù)材料或者沿外部保護(hù)材料-金屬導(dǎo)體界面滲入,UHAST是不加偏置電壓,以確保能夠發(fā)現(xiàn)可能被偏壓掩蓋的失效機(jī)理(如電偶腐蝕)。
適用范圍
本測(cè)試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對(duì)于大型整機(jī),宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級(jí)別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗(yàn)。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
設(shè)備能力
溫度105℃~143℃±0.3 ℃、濕度75%RH~100%RH±3%RH、壓力1.2kg/cm2~4.0kg/cm2
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》
GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》
試驗(yàn)照片
試驗(yàn)設(shè)備
試驗(yàn)過(guò)程
試驗(yàn)曲線