溫度沖擊試驗是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時間、循環(huán)數(shù)。那溫度沖擊試驗要求和目的是什么?下面跟隨武漢金測小編一起來看看吧。
一、業(yè)務(wù)范圍包括:
1、計算機(jī)類:電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)用設(shè)備等儀器;
2、電子通信類:手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等;
3、電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;
4、其他:包裝箱、運輸設(shè)備等。
二、測試參考標(biāo)準(zhǔn):
IEC 60068-2-14,GB/T 2423.22,GJb 150.5等。
三、溫度沖擊試驗?zāi)M的環(huán)境情況:
電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時,其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。
四、下列情況下,可預(yù)見快速的溫度變化:
1、當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境,或相反情況時;
2、當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷凍時;
3、安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中;
4、在某些運輸和貯存條件下。
通電后設(shè)備中會產(chǎn)生高的溫度梯度,由于溫度變化,元器件會經(jīng)受應(yīng)力,例如,在大功率的電阻器旁邊,輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高,而其他部分仍然是冷的。
當(dāng)冷凍系統(tǒng)通電時,人工冷凍的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。
五、溫度沖擊試驗要求和目的:
1、高低溫沖擊試驗箱試驗的目的是用來確定測試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時候的適應(yīng)性以及被破壞性的。
2、試驗箱試驗的條件,高溫箱是在:RT~150℃,低溫箱是在:RT~-40℃,試驗溫度保持的時間:1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時間長者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù):針對各個不同行業(yè)不同廠家所對應(yīng)的試驗要求不一樣,按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗方法測試。
3、高低溫沖擊試驗箱測試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內(nèi)取出來之后,應(yīng)該是在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)的,直接試驗樣品達(dá)到了溫度的穩(wěn)定性。
4、試驗箱采用的是高溫箱以及低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗的,以免提供試驗樣品經(jīng)受了周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。
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