一般來(lái)說(shuō)為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測(cè)從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場(chǎng)環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后，設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時(shí)間，主要目的是盡可能在短時(shí)間內(nèi)，正確評(píng)估產(chǎn)品可靠性。

　　一、常規(guī)電工電子可靠性檢測(cè)項(xiàng)目及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

　　1.低溫試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

　　2.高溫試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

　　3.恒定濕熱試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

　　4.交變濕熱試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

　　5.振動(dòng)試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

　　6.溫度變化 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

　　7.溫度/濕度組合循環(huán) 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

　　8.跌落 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

　　9.機(jī)械沖擊 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

　　10.碰撞 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

　　11.傾跌與翻倒 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

　　12.砂塵 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

　　13.鹽霧 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

　　14.溫度沖擊 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

　　15.外殼防護(hù) 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼) GB 4208-2008，IEC 60529:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

　　16.低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

　　17.高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

　　18.溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合 GB/T 2423.59-2008

　　19.(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合GB/T 2423.102-2008

　　20.可靠性試驗(yàn) 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案 GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn) GB/T 5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989 設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案 GB/T 5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 可靠性測(cè)定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978 可靠性試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994 可靠性試驗(yàn) 第1部分：試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001

 　　武漢金測(cè)實(shí)驗(yàn)室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》)的要求開(kāi)展測(cè)試服務(wù)，秉承：管理科學(xué)，公平公正;操作規(guī)范，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；安全保密，廉潔自律的質(zhì)量方針和第三方公正實(shí)驗(yàn)室的職業(yè)道德，熱誠(chéng)為國(guó)內(nèi)客戶提供標(biāo)準(zhǔn)、檢測(cè)、認(rèn)證工作的全方位服務(wù)。