電容器是一種“電容器”，是一種容納電荷的設(shè)備。電容器是電子設(shè)備中應(yīng)用廣泛的電子元器件之一，電容器被廣泛應(yīng)用于電路分離中，通過交叉、耦合、旁路、濾波、調(diào)諧回路、力量轉(zhuǎn)換、控制等。

它在調(diào)諧、旁路、耦合、濾波等電路中起著重要作用，主要用于唱機和錄音機的調(diào)諧電路，以及彩電的耦合電路和旁路電路。老化試驗是確保電容器可靠性水平和質(zhì)量的篩選方法之一。接下來武漢金測就為大家講解電容老化試驗的標(biāo)準(zhǔn)和方法：

電容器老化試驗的目的:

調(diào)查電容器隨著時間的推移，產(chǎn)品性能的變化，調(diào)查產(chǎn)品使用的可靠性。

電容器老化試驗標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB/T 2423.2《電氣電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分》

2.IEC 60068-2-2電氣和電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2-2部分:試驗試驗B:干熱

3.環(huán)境工程考慮因素和實驗室測試

電容老化試驗方法：

1. 在室溫下，在額定電壓下保持12分鐘，泄漏電流{UR≤100V時，I≤0.01CV或3μA(以較大者為準(zhǔn));

當(dāng)UR > 100V時，I≤0.0.CV+10μA}

2. 在85℃的高溫和額定電壓下，連續(xù)檢測泄漏電流波動24小時

3.每5分鐘記錄一次數(shù)據(jù)。

確保泄漏電流在老化過程中波動不明顯，且小于初始限值的10倍

4. 回到常溫保存12分鐘

5. 監(jiān)測泄漏電流、損耗角和絕緣電阻是否符合常溫標(biāo)準(zhǔn)

電解電容器可靠性試驗項目

1、串聯(lián)電阻試驗、絕緣電阻試驗;

2、拉伸試驗，即鉛與芯片焊連牢固性;

3、正負溫度變化率試驗，即-40度至+60度，電容變化率;

4、老化試驗，電解電容器在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運行30~60天，測試其衰減對其參數(shù)變化的影響;

5、電壓試驗，包括額定工作電壓24小時工作試驗;

它還包括耐磨性，這是破壞性的測試。

電容器擊穿前的臨界電壓為擊穿電壓。

6、局部放電試驗，即局部放電試驗;

7、壽命試驗，即在老化試驗的基礎(chǔ)上，再對電容器進行高頻沖擊電流快速充放電試驗，充放電次數(shù)即為充放電壽命，注意這個壽命是經(jīng)過長時間老化后獲得的。

以上就是《電容器老化試驗標(biāo)準(zhǔn)及方法》的相關(guān)介紹，如果您有產(chǎn)品需要咨詢相關(guān)試驗，歡迎來電咨詢詳情！