HAST測試是一種高加速溫度和濕度應(yīng)力測試，也稱為高壓蒸煮測試。 它是一種以溫度和濕度作為環(huán)境參數(shù)的高度加速的電子元件可靠性測試方法。 目的是通過將測試室內(nèi)的水蒸氣壓增加到高于測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評估測試樣品的防潮性。

HAST測試標(biāo)準(zhǔn)

與高溫/高濕測試 (85°C/85% RH) 相比，HAST 會因濕氣驅(qū)動的腐蝕而導(dǎo)致更多的組件接觸，并且絕緣性能下降更多。  HAST 主要用于塑料密封部件。 下表顯示了較常見的 HAST 相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)。 在電子元件通電的情況下進(jìn)行的測試通常是不飽和類型的。

HAST測試方法

HAST控制方法包括干濕球溫度控制、不飽和控制和潤濕飽和控制。 干濕球溫度控制通過濕球溫度傳感器和干球溫度傳感器直接測量和控制試驗室的溫度和濕度。 潤濕飽和控制和不飽和控制用于100 %相對濕度下的測試。 測試樣品上形成冷凝的機制因控制方法而異。 當(dāng)在100 %相對濕度下使用加濕飽和控制進(jìn)行測試時，測試室加熱器關(guān)閉并且僅控制加濕加熱器。 環(huán)境類似于無空氣環(huán)境中的沸水。 當(dāng)使用不飽和度控制時，打開的測試室加熱器可能會導(dǎo)致輕微的欠飽和傾向。